产品中心
PRODUCT LIST
该反渗透设备专为电子芯片测试工序设计，提供超高纯度、无杂质的测试用水，适配芯片性能测试、可靠性测试等场景，解决测试过程中水中微量杂质导致的测试数据偏差、芯片损坏等问题，满足芯片测试的电子级超纯水标准，助力提升芯片测试精度与测试效率，适配中高端电子芯片测试需求。
工作原理：采用“预处理+一级RO+二级RO+EDI+抛光混床+超滤”组合工艺，原水经预处理系统去除泥沙、悬浮物、余氯、有机物等杂质；一级RO与二级RO系统逐步去除水中离子、大分子杂质，提升水质纯度；EDI深度除盐系统降低电导率，抛光混床进一步提纯，去除微量残留离子；超滤系统拦截微量颗粒物和微生物，最终产出超高纯度测试用水；设备通过PLC智能控制系统，实现全流程自动化运行，实时监测水质指标，确保出水水质稳定，满足芯片测试的严苛要求。
技术参数：
1. 产水量：4-40m³/h（可定制）；
2. 出水水质：电导率≤0.06μS/cm，电阻率≥18MΩ·cm，SiO₂≤10μg/L，颗粒物（≥0.1μm）≤1个/mL；
3. 反渗透膜：进口陶氏CPA3-LD，脱盐率≥99.8%；
4. 操作压力：1.2-1.6MPa；
5. 进水要求：浊度≤0.3NTU，SDI≤2，余氯≤0.05mg/L，水温15-35℃；
6. 运行功率：12-100kW（根据产水量定制）；
7. 控制方式：PLC全自动控制，支持远程监控、水质在线监测、故障自动停机保护。
性能优势：
1. 出水纯度极高，达到电子级超纯水标准，无离子、有机物、颗粒物残留，确保芯片测试数据精准，减少测试误差；
2. 多级提纯工艺，水质稳定性极强，可长期保持出水指标达标，适配芯片连续测试需求；
3. 采用进口核心部件，运行效率高，抗污染能力强，使用寿命长，降低后期运维成本；
4. 全自动运行，无需人工值守，配备自动反洗、在线监测、故障报警等功能，运维便捷；
5. 水回收率高（≥75%），能耗低，契合电子行业绿色生产、节能降耗要求；
6. 设备适配芯片测试车间洁净环境，结构紧凑，耐腐蚀、抗干扰，运行稳定，故障率低；
7. 模块化设计，可根据芯片测试产能提升灵活扩容，适配企业测试产能升级需求。